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半導體分立器件測試系統測試范圍-開爾文
- 分類：新聞資訊
- 作者：
- 來源：
- 發布時間：2022-03-15
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【概要描述】陜西開爾文測控技術有限公司半導體分立器件測試系統是專為測試半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列
半導體分立器件測試系統測試范圍-開爾文
【概要描述】陜西開爾文測控技術有限公司半導體分立器件測試系統是專為測試半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列
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- 發布時間：2022-03-15
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本系統是專為測試半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列：
1) 二極管 DIODE
2) 晶體管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
3) 穩壓（齊納）二極管 ZENER
4) 結型場效應管 J-FET （N-溝/P-溝，耗盡型/增強型）
5) MOS場效應管 POWER MOSFET（N-溝/P-溝）
6) 三端穩壓器 REGULATOR（正電壓/負電壓，固定/可變）
7) 光電耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
8) 可控硅整流器（普通晶閘管） SCR
9) 雙向可控硅 （雙向晶閘管） TRIAC
10) 絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT
11) 繼電器 RELAY（A,C型）
12) 壓變電阻 VARISTOR
13) 達林頓陣列 DARLINTON
KEW3500測試系統測試范圍為1-13大項二十三個分類
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