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分立器件測試儀

分立器件測試儀主要技術參數 分立器件測試儀系統主要技術參數列表如下: 主極電壓 2000V(加選件可擴展至3300V)
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分立器件測試儀主要技術參數

分立器件測試儀系統主要技術參數列表如下:                                                                          

主極電壓          2000V(加選件可擴展至3300V)

主極電流          50A(加選件可擴展到100A至2500A)

控制極電壓       20V(加選件可擴展到80V)

控制極電流       10A(加選件可擴展到40A)

電壓分辨率       1mV

電流分辨率       100pA(加選件可擴展到1pA)

測試速度          5ms/參數

3300V、2500A以上可訂制

可測試器件種類

該系統是專為測試大功率半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力,能夠真實準確測試以下19個類型的半

導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列:

器件測試種類

二極管

DIODE

穩壓(齊納)二極管

ZENER

晶體管

TRANSISTOR(NPN/PNP)

單向可控硅(普通晶閘管)

SCR

雙向可控硅(雙向晶閘管)

TRIAC

金屬-氧化物-半導體場效應管

MOSFET(N-CH/P-CH)

結型場效應管

JFET(N-CH/P-CH)

三端穩壓器

REGULATOR(正電壓/負電壓,固定/可變)

絕緣柵雙極大功率晶體管

IGBT(N-CH/P-CH)

光電耦合器

OPTO-COUPLER(NPN/PNP)

達林頓陣列器件

DARLINTON

光電開關管

OPTO-SWITCH

繼電器

RELAY(A,B,C型)

金屬氧化物壓變電阻

MOV

壓變電阻

VARISTOR

智能功率模塊

IPM

集成功率模塊

PIM

關鍵詞:
分立器件測試儀
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