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分立器件動態參數測試儀

分立器件動態參數測試儀本測試系統具有高測試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點,實現碳化硅二極管、MOSFET器件開通時間、關斷時間、快恢復二極管反向恢復時間、反向電流及反向恢復電荷等測試,通過計算機控制,示波器采集波形,由計算機處理數據并顯示測試結果,
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參數

      分立器件動態參數測試儀本測試系統具有高測試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點,實現碳化硅二極管、MOSFET器件開通時間、關斷時間、快恢復二極管反向恢復時間、反向電流及反向恢復電荷等測試,通過計算機控制,示波器采集波形,由計算機處理數據并顯示測試結果,

分立器件動態參數測試儀主要技術參數:

測試產品:SiC FRD,MOSFET(兼容Si基產品)

測試能力:

a、開關時間測試

測試條件:ID:1A~1000A,VDS:5V~3500V,VGS:-10V~20V,Rg:手動可調,阻性,感性負載可切換

測試參數:td(on)\tr\td(off)\tf:0.1nS-200nS,Eon\Eoff:10uJ~100mJ

b、反向恢復特性測試

測試條件:IF:1A~1000A,VR:5V~3500V,di\dt:50A/us~10000A/us

測試參數:trr:0.1nS-200nS,Qc:1nC~1uC,lrm:1A~200A,Erec:0.1uJ~1mJ

c、短路電流測試

測試條件:Pulse width:1uS~100us,VDS:5V~3500V

測試參數:Peak ID:10A~1000A,Delta Vds:10V~200V

關鍵詞:
分立器件動態參數測試儀
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